SRM 1241c 鋁合金5182 標(biāo)準(zhǔn)品使用

NIST SRM 1241c 鋁合金5182 標(biāo)準(zhǔn)品主要用于評(píng)估儀器分析方法，包括輝光放電發(fā)射光譜法、火花源發(fā)射光譜法和 X 射線熒光光譜法。 SRM 1241c 的一個(gè)單元由一個(gè)直徑約 6.3 厘米、厚 1.9 厘米的圓盤組成。鋁合金 5182 也可作為 SRM 854a 以芯片形式提供。

使用說明

測(cè)試面是標(biāo)記面的反面，包括SRM編號(hào)和序列號(hào)。

SRM 1241c 鋁合金5182 標(biāo)準(zhǔn)品該裝置的整個(gè)厚度都經(jīng)過認(rèn)證。每個(gè)封裝的磁盤都是通過使用銑床完成測(cè)試表面來準(zhǔn)備的。用戶必須為每種分析技術(shù)確定正確的表面處理程序。例如，在 NIST 進(jìn)行輝光放電光發(fā)射測(cè)量的準(zhǔn)備工作包括用砂紙研磨表面。提醒用戶在重修磁盤或進(jìn)行額外拋光時(shí)要小心，因?yàn)檫@些過程可能會(huì)污染表面。材料應(yīng)存放在其原始容器中，置于陰涼干燥的地方。

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